Spektral monolitische Messverfahren zur Oberflächenkontrolle

2008-03-20T13:46:13+01:00

Spektral Messverfahren zur dyne Kontrolle

Spektral Messverfahren zur opto dynamischen Surface Tension dynes Oberflächenspannung

Oberflächenenergiemessung - ODSTM-1 - für bewegte Kunststofffolienbahnen

Frühre Patentanmeldung DE19543289 A1 - Patent Klassifikation G01L1 /24

IPM- International Perforation Management
high-tech engineering - China – Germany - Thailand
Mr. Werner Grosse
Tel./fax : 0049-3212-5097465
http://www.microperforation.com
http://www.microperforation.com.cn
http://www.deguodaguan.com/ipm/

Immer noch gibt es weltweit kein berührungslos, real time, optisches online Oberflächenspannungs- oder Oberflächen Energiemeßsystem - dyne - für laufende Warenbahnen.

Aufgrund der stetig steigenden Herstellung und Anwendung von Oberflächen vorbehandelten oder auch unbehandelten Kunststofffolien-, Laminaten und beschichteten Papierbahnen ist hier ein unvorstellbares Marktpotential hinsichtlich der online Prozessmessung der Oberflächenspannung - dyne - und einer automatisierten Nachstellung des Vorhandlungsgrades, deren Konstanthaltung sowie einer moderaten Qualitätskontrolle und Produkt Zertifikation vorhanden.

Verständlicherweise sind viele Unternehmen aus dem In- und insbesondere aus dem Ausland am Nanotechnologie Messverfahren, an einer Projektkooperation, Entwicklung, Prototypen Testung, weltweiten Herstellung, dem Vertrieb, an Lizenznehmungen oder vergleichbaren online touchless Messsystemen für diese spezielle Industrieanwendung interessiert.

Auf unseren Internetseiten sind eine Reihe von Spektralmessungen sowie Testresultate an BOPP und LDPE Folien zu finden.

Des Weiteren das technische Anforderungsprofil an die Verfahrensmessung, dem ODSTM-1 Messsystem und deren Prototyp.

Zum seinerzeitigen Stand der Technik für STATISCHE Oberflächen Spannungsmessungen sind auszugsweise Publikationen sowie Patentanmeldungen zusammengestellt. Hierbei sind die zeitlich relativ neuen Anmeldungen, welche ausnahmslos die statische Detektion und Bildung des Oberflächen Spannungswertes mit sequentiell aufgetragenen Flüssigkeitstropfen und Bildaufnahmesystemen zum Gegenstand haben, von Bedeutung. Deren Publikationen und Patente sind in der Patentanmeldeschrift angegeben.

Tiefgang Fachpublikationen der letzten Jahre, welche die ODSTM-1 Thematik direkt tangieren

Schichtbetrieb - Anforderungen an Schichtdickenmessung in der Mikro- und Nanotechnik :
MessTec & Automation 3/2003, Prof. Peter Pokrovski
Optische Schichten mit ultrahydrophoben und streuarmen Eigenschaften : Photonik 4/2002, K.Reihs Surface Nanotechnologies GmbH, A.Duparre, Fraunhofer IOF
Anforderungen an Spektralmessgeraete für DWDM Systeme : Photonik 4/2002, Laurant Begin, Jim Nerschook, NetTest, Utica, NY, USA
Nanoporöse Polymerfilme als kostengünstige und zugleich hochwertige Antireflexbeschichtungen : Photonik 4/2002, Dr. Stefan Walheim, FZ-Karlsruhe, Institut für Nanotechnologie JURCA Optoelektronik GmbH : Hochgenaue schnelle Schichtdickenbestimmung mit
Weißlichtinterferometrie, (Highly-accurate and quick layer-thickness measuring with white light interferometry) Sensor Magazine 1/2000
JURCA Optoelektronik GmbH - Dr. Gerd Jakob : Koaxiale interferometrische Schichtdickenmessung, Photonik 9/2000
Datron-Meßtechnik GmbH : Mikrowellensensor für Weg- und Geschwindigkeitsmessung, (Micro-wave sensor for distance and speed measuring) Meßtech 2/2000
Franz-Patat-Zentrum : Oberflächenbehandlung - Neues höchstens im Labor, (Surface treatment – the latest, only in the laboratory) PKV-Magazine 3/2000
Institut für Kunststoffverarbeitung (Institute for Plastic Processing) Aachen IKV : Folienextrusion - Ergänzendes Nebeneinander von Gieß- und Flachfolienverfahren, page 39, (Film extrusion – complementary use of casting and flat film techniques) PKV-Magazine 12/1999
In-Line Nahinfrarot-Spektroskopie bei der Kunststoffextrusion : publication at GIT-Labor-Fachzeitschrift 12/2000, Dipl.Phys. Thomas Rohe, Dipl.Ing. Sabine Kölle - FHG für Chemische Technologie ( ICT )
Smart Priming : publication at coating 12/2000 by Dr. Michael Bauer, Dr. Martin Kunz
Semiconductor Metrology: Will Photonics Measure Up ?Scatterometry, ellipsometry and optoacoustic techniques represent photonics in metrology toolbox of next-generation integrated circuits : publication at Photonics Spectra December 2000 by Alain C.Diebold - International
Sematech senior fellow
Enercon : Reprint from Flexo May 1988 : Statistical Quality Control ( SQC ) Applied to Corona Treating, by David Markgraf Enercon : Corona Treatment - an overview, by David Markgraf, Enercon Industries Corp.
Light Scattering Measures Subangstrom Roughness - by Laurel M. Sheppard, Photonics Spectra 9/1999
Basis Weight, Sensor for Sheet and Film Products : by Honeywell-Measurex, Coating Magazine 11/1998
A comparison of 3D static light-scattering experiments with Monte Carlo simulations : Institute for Anorganic und Physical Chemistry of the Bremen University, IOP-Publishing Ltd. 32/1999
Was kann Oberflächenanalyse ? : Dr.J.Goschnick, coating 3/2000
Corona Technologie : Patentinformationen, Anwendungen, Mechanismen : Dr. Ralf Quack, coating 3/2000
WO 99/23479 : Reflectometer
WO 98/06999 : Method and Device for measuring the thickness of an insulating coating
US 5.590.560 : Apparatus for measuring viscosity or thickness, surface tension and surface dilational elasticity
EP 0.225.590 : Verfahren und Vorrichtung zur Bestimmung von Dicken- und/oder Orientierungsänderungen innerhalb einer optisch aktiven Materialbahn (Method and device for the measurement of thickness changes and/or orientation changes within an optically active
material web)
Coating magazine 2-2004, Coronabehandlung von Polymerfolien, Nachweismethoden, Einflussfaktoren und On line-Kontrolle, Dr.-Ing. Andreas Kiesow, Dr. Jürgen Meinhardt, Prof. Dr. Andreas Heilmann

Dynes control
Described is a method and device for optical inline tough less surface tension control ODSTM-1 by which the fast moving substrate runs through the measuring gap. It’s transmitted with a chromatic beam and spectral selected light source were two optical channels are displaced and polarized by 90 degree to each other. Both optical axles are precise and motor driven shift able in certain angles from 25 up to 65 degree. The spectral light photons, transmission, extinction, absorption grades are detectable by two optical CCD imagine vision devices which are integrate in the sensor case on the other side of the substrate.

Material
Moving substrates means plastic foils, flexible, high-tech films, laminate, coating, bonding, labeling, co-extrusion, BOPP, LDPE, LLDPE, HDPE, MDPE, MAS, MEV, PET, FEP, PP, PE, PS, PO, EVA, PTFE, PVC, PTFE, DPC, BOPS, Vinyl, Polyester, Wrapping, Olefin, self-
adhesive tape, high strength, cross-laminated, adhesive-coated films, reflective or magnetic sheeting, automotive tape products, inkjet media, Polyethylenex, heat sealing, sewing of plastic film, security, pressure sensitive tapes for the entertainment industry, graphic and specialty arts for general industrial and electrical applications, building or engineering industry, photographs, masking or printable plastic films, flat or corrugated rigid foamed thermoplastic sheets, polycarbonate, acrylic.

PETG, extruded or polished cellulose, optical grade polycarbonate, sheets for IR or laser protection, welding filter grade sheets, films for video, imaging, capacitor or thermo transfer applications, foamed polypropylene film with decorative ribbons, binary-oriented polystyrene
sheets, multi layer co-extruded film, high impact PVC and PETG, polyimide film, tape and flat films for aerospace automotive medical agriculture marine automotive household commercial domestic construction industry, municipal and leisure applications, clear matt semi-matt finishes or colored, micro porous membranes for use in alkaline lithium batteries, fuel cells and filtration equipment.

By gauges from 10µ to 100µ, fabric widths up to 10,000 mm and web speeds up to 18 meters per second.

Optical properties Material specific wavelength selection between 1200-1800nm, material specific finger prints, molecular spectral properties, transmission grades, optical angle scanning, Lambert Beersche law determining, ultra low level stray scatter light detection, polarization, slot diaphragms, transverse displacements control the light beams along/far from the optical X and Y axes. The results are extreme scattering, diffraction, NIR, IR, stray light photons generation into the layer areas at both sides of the moving substrate. Their reflected and transmitted light intensities enables the determination by defined formulas and data matrixes the surface tension values in ranges from 28-62mN/m which are direct associate and bond to real static values for Statistical Quality Control (SQC).

And this entirely independent of the material specific influences as like surface consistency, thickness, density, weight, opacity, coherence, filling, stretching, shrinkage, structure, co-extrusion, polar grouping, temperature, intrinsic motivation or viscosity, hydrophobia, hydrophilicmolecules, hydrogen, photonics, mol mass, moisture, water steam proof, bi-layer, polymer, patterning, nanostructure, irradiation, isotopic, catalyst, multi atomic, coherence, absorption, photo mask effect, roentgen, X-ray, radiation, resonance bands, REM, TEM, FIC, IEC, ESCA X-Ray, Raman, Lamber Beersche law, electron spectroscopy for chemical analysis ASTM or ATR method, property, ellipsometry, opto-acoustic photonic liquid effects, pre material treatment as corona, plasma, flam treatment.